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IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

IEEE Test Technology Standards Committee
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年:
2022
出版商:
IEEE
語言:
english
ISBN 10:
150448875X
ISBN 13:
9781504488754
文件:
PDF, 29.03 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2022
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